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一、微波物位計的介電常數(shù)
與頻率大小無關(guān)，介電常數(shù)在雷達的使用中起著重要的作用，因為所有雷達設(shè)備的回波強度均受到被測介質(zhì)介電常數(shù)的影響。具有高介電常數(shù)的介質(zhì)吸收的微波信號很少，會產(chǎn)生一個很強的回波信號，比如：水；低介電常數(shù)介質(zhì)會吸收信號，使回波信號減弱，比如：汽油、液化氣等。介電常數(shù)小于2~3的介質(zhì)會影響回波信號的強度從而引起顯著的衰減。介電常數(shù)一般會隨著溫度的變化而變化，在很多溫度變化很大的過程工藝中，介質(zhì)的介電常數(shù)變化過大以至于小于2~3，可能會導(dǎo)致微波物位計不能獲得足夠的回波信號能量來進行工作。
大多數(shù)低頻(6GHz)的微波物位計可以直接測量介電常數(shù)為2~3以上的介質(zhì)，但是如果用于測量低于2~3的介電常數(shù)的介質(zhì)時，通常需要選擇采用靜態(tài)管或高頻（24GHz）的微波物位計來解決。采用靜態(tài)管或?qū)Рü芴炀€的低頻雷達可以測量介電常數(shù)大于1.5的介質(zhì)，而高頻雷達可以直接測量低介電常數(shù)的介質(zhì)。
二、掛料
天線上的掛料會限制雷達的功能，zui常見的掛料是凝結(jié)水。液體應(yīng)用中可能會使蒸汽凝聚到天線上，而其他應(yīng)用中可能會把液體和漿料飛濺到天線上，導(dǎo)致由于掛料而可能消弱雷達的性能。根據(jù)不同的應(yīng)用類型，這些天線的掛料可能會影響液位的測量。一般對于容易產(chǎn)生少量冷凝水的工況，選擇桿式天線會取得比喇叭天線更好的效果；但是，在容易發(fā)生介質(zhì)飛濺到天線上而產(chǎn)生掛料的工況中，適宜采用低頻的喇叭天線雷達，喇叭天線的結(jié)構(gòu)可以防止介質(zhì)進入喇叭口內(nèi)影響電極的發(fā)射，而且，發(fā)射較長的波長，使它們對厚的粘附物的敏感性降低，可穿透厚的粘附物。由于信號較強，通過厚的天線粘附物仍能保持測量。另一個重要的因素是天線的構(gòu)成成分。采用PTFE桿式天線的低頻雷達，具有抗化學(xué)腐蝕性能，清潔方便的優(yōu)點。在粘附物會造成嚴重掛料的應(yīng)用（例如礦漿儲罐）中，可選用自清洗系統(tǒng)用來保持喇叭天線的清潔。這個系統(tǒng)使用空氣或液體來沖涮喇叭內(nèi)部，每隔固定的間隔就進行一次清洗。
三、腐蝕性
因為桿式天線的材質(zhì)一般都選用更耐腐蝕性的PTFE、PE、PP等材質(zhì)，因此在很多有強腐蝕性的應(yīng)用中，較多的選用桿式天線；而喇叭天線因為一般都采用不銹鋼材質(zhì)，其耐腐蝕性一般不如桿式天線；當然也有些公司可以定制哈氏合金的喇叭天線或帶flon涂層的喇叭天線來滿足一些有一定復(fù)雜性而不能使用桿式天線而又有腐蝕性要求的工況。
四、泡沫
在反應(yīng)釜和過程罐中，化學(xué)物品混合在一起會產(chǎn)生泡沫。雖然雷達不能穿透所有的泡沫進行測量，但是它能過穿透其中的一些類型，能夠獲得泡沫下面的液位。為了可靠測量，識別濕泡沫和干泡沫是很重要的。對于干泡沫，微波信號能夠穿過泡沫并檢測下面的液體表面。干泡沫在釀造行業(yè)較為常見，與浴缸中的泡沫相似-輕且密度低。對于中等密度的泡沫，信號被吸收或被散射，結(jié)果是不可預(yù)知，沒有規(guī)律的。對于濕泡沫，微波信號在泡沫表面發(fā)生反射。濕泡沫由非常小的泡沫構(gòu)成，這使液體處于懸浮中。這些泡沫非常密集，與烈性啤酒中的泡沫相似。當雷達不能測量有時存在于儲罐中的濕泡沫/液體界面時，它會對泡沫層的頂部產(chǎn)生一個非常穩(wěn)定的回波。雷達技術(shù)通常不適合用于可能存在泡沫的廢水深井。由于系統(tǒng)的自然特性，注入深井的成分會經(jīng)常變化。泡沫存在不可預(yù)知性，且取決于泡沫密度。當泡沫狀況保持穩(wěn)定時，雷達是可靠的。在啤酒行業(yè)，雷達測量會穿透罐中的泡沫。在廢水行業(yè)，在厭氧消化池的應(yīng)用中，雷達用于測量泡沫的表面。
五、擾動的液面
對于在擾動容器里的波動的表面，低頻的微波物位計具有很好的表現(xiàn)。低頻微波會產(chǎn)生一個較寬的波束角，覆蓋液體表面較大的面積。波動會減小信號的幅值，但是，比起高頻波束來，要減小的少得多。另外，當液面表面波的波長與電磁波的波長相同時，會發(fā)生zui嚴重的衰減。波動引起的衰減可以通過用來引導(dǎo)和限制波束角的靜態(tài)管或?qū)Рü芟拗苽鬏斝盘杹淼玫郊訌姟?/p>
和超聲波的工作方式類似，微波物位計也可以通過啟動攪拌器濾波器的功能來消除攪拌器的干擾。
六、粉狀固體
粉狀固體的物位的連續(xù)測量長期以來一直是個難點。超聲波、重錘、TDR、電容等測量方式都曾經(jīng)被用于這一應(yīng)用，但是均存在著很多問題而導(dǎo)致使用效果欠佳。
有些公司嘗試采用微波技術(shù)來測量粉狀固體的物位，由于電磁波具有很好的穿透粉塵的性能，因此也的確取得了一些成績，但是其實際不太穩(wěn)定的使用性能一直不能得到客戶的滿意。
